EOS為Electrical Over Stress的縮寫，指所有的過度電性應力。當外界電流或電壓超過器件的最大規(guī)范條件時，器件性能會減弱甚至損壞。

　　EOS通常產(chǎn)生于

　　1.電源(AC/DC) 干擾、電源雜訊和過電壓。

　　2.由于測試程序切換（熱切換）導致的瞬變電流/峰值/低頻干擾。其過程持續(xù)時間可能是幾微秒到幾秒（也可能是幾納秒），很短的EOS 脈沖導致的損壞與ESD損壞相似。

　　3.閃電。

　　4.測試程序開關引起的瞬態(tài)/毛刺/短時脈沖波形干擾。

　　5.測試設計欠佳，例如，在器件尚未加電或已超過其操作上限的情況下給器件發(fā)送測試信號。再比如在對器件供電之前加入測試信號，或超過最大操作條件。

　　6.來自其它設備的脈沖信號干擾，即從其它裝置發(fā)送的脈沖。

　　7.不恰當?shù)墓ぷ鞑襟E，工作流程不甚合理

　　8.接地點反跳（由于接地點不夠導致電流快速轉換引起高電壓）